Your cart
В вашей корзине больше ничего нетПолный спектр портативных ультразвуковых дефектоскопов и дефектоскопов с фазированной решеткой обеспечивает превосходные возможности для обнаружения подповерхностных дефектов. Используя ультразвуковые волны, эти современные приборы позволяют находить и определять размеры скрытых трещин, пустот, дисбондов и других подобных дефектов в широком спектре материалов. Компания Olympus предлагает различные приборы для расширенного дефектоскопического контроля: дефектоскоп EPOCH™ 650 отличается превосходной производительностью и удобством использования, а легкий дефектоскоп EPOCH 6LT оптимизирован для работы одной рукой в условиях канатного доступа и высокой мобильности. На этой странице вы также найдете видеоинструкции по работе с нашими дефектоскопами, которые помогут вам раскрыть возможности передового и эффективного ультразвукового контроля.
Вихретоковые и ультразвуковые дефектоскопы
Ультразвуковые дефектоскопы
Предлагаемые нами ультразвуковые дефектоскопы обладают самыми современными характеристиками и возможностями для обнаружения несплошностей и других дефектов.
Дефектоскопы с фазированной решеткой
Приборы Olympus с фазированной решеткой (ФР) позволяют получать точные, детальные изображения поперечных сечений внутренних структур при высокой скорости контроля. Для расширенного применения предлагаются приборы с TFM/FMC.
Вихретоковые дефектоскопы
Современные вихретоковые дефектоскопы (ВТП) используются для контроля металлических деталей и обеспечивают высоконадежную дефектоскопию поверхностных и приповерхностных дефектов.
Дефектоскопы с вихретоковой решеткой
Приборы с массивом вихретоковых датчиков (ECA) обеспечивают возможность электронного управления и считывания данных с вихретоковых датчиков, расположенных рядом в одном блоке датчиков.
Тестирование связей
Наша полная линейка дефектоскопов для испытаний на сцепление (BT) обеспечивает превосходные возможности для обнаружения разрывов и других дефектов в композитных конструкциях. Мы предлагаем широкий спектр измерительных функций и опций для дефектоскопии в зависимости от конкретного применения.